大鼠颅脑损伤电刺激模型
模型简介：
颅脑损伤(Traumatic brain injury,TBI)是威胁人类生命的主要损伤之一.是临床病例及法医学活体伤害案件中较常见的脑外伤类型,约占全部脑损伤的75%.在美国,因颅脑损伤引发的费用,每年约300亿美元.颅脑损伤占美国人群死亡原因的第三位,是西方工业国家青少年死亡的首要死因.颅脑损伤已成为全球关注的严重的公共卫生问题. 我国尚未见这方面的权威统计报道,但是由于我国人口基数大,况且随着交通和建设事业的不断发展,颅脑损伤的发生率逐年上升.颅脑损伤已成为威胁人们生命的主要原因。
模型应用领域：
1）探究颅脑损伤的发病机制；2）用于颅脑损伤相关治疗药物的研究开发
实验材料：
SD雄性大鼠
造模方法：
刺激电极植入C2脊髓背表面，手术剥离骨膜暴露颅骨,电动磨钻颅骨开窗，重物打击。
模型验证：
检测神经功能mNSS评分
No.
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